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| IC Measure: 影像擷取及屏幕測量軟體 |
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| IC Measure 是一套多功能且高性能的免費終端使用者應用程式，其簡易的使用者介面提供了影像擷取和影像加強的功能，包括色調印射、CRA (主光線角度測量)、鏡頭變形校正、圖像堆疊等，可藉由額外的工具與顯微相關應用程式結合來完成測量，如螢幕影像測量、長度、表面和角度測量以及可以輕易整合的註解工具及編程(如十字瞄準線、標尺及網格)等。此應用程式可與The Imaging Source 兆鎂新所有款型的相機及影像擷取卡結合使用，確保最佳使用彈性及最大化使用者效益。 |
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| 瞭解更多 |
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| HALCON 進階版本 |
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| 第一版的HALCON Progress, HALCON 17.12，搭配預訓模組(pre-trained network)，使用者可以透過卷積神經網絡系統來建立分類器。此版本另有如自動文字讀取、介面相容等特點，可強化多路3D點雲及HDevEngine。現提供試用版下載使用。 |
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| 瞭解更多 |
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| 服務 |
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| 假期愉快 |
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| The Imaging Source兆鎂新祝您有個愉快的假期以及美好的新年。 |
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| 免費試用 |
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| 歡迎聯繫我們關於The Imaging Source兆鎂新硬體及軟體免費測試的資訊。 |
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| 諮詢與支援 |
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| 我們的專業諮詢團隊為您提供全方位的支援服務。 |
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| 培訓 |
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| 依照特定應用需求，我們為您量身訂製培訓研討課程。 |
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