機器視覺中的 CCD 感測器
CCD 感測器擷取光線的方式與其他影像感測器相同,但其資料傳輸方式則完全不同。它不會在每個像素內部將電荷轉換為電壓,而是保留原始電荷,並將這些電子逐像素地物理傳輸到晶片角落的單一中央放大器。由於所有像素共用完全相同的讀出電路,因此產生的影像具有出色的均勻性與低雜訊表現。儘管現代互補式金屬氧化物半導體(CMOS)技術已大致取代了它,但對於維護舊系統或研究感測器演進的工程師而言,理解這項經典架構仍然非常重要。
CCD 感測器的運作原理
CCD 的關鍵特徵在於其資料傳輸方式,常被比喻為「水桶接力隊」。當光子撞擊光電二極體時會產生電子。與 CMOS 感測器不同--CMOS 會在像素內部直接將這些電子轉換為可量測的電壓--CCD 則保留原始電荷不變。
當曝光結束後,感測器會將活躍像素中的電荷轉移至垂直移位暫存器。電荷接著沿著欄位依序往下移動至水平移位暫存器,後者再將電子逐一送入晶片角落的單一共用放大器。
這種集中式放大方式正是 CCD 在歷史上的核心優勢。由於每個像素的電荷都是由完全相同的類比元件轉換為電壓,因此幾乎完全消除了像素之間的差異(即固定圖樣雜訊),而早期其他感測器架構則普遍存在此問題。
CCD 在工業成像中的歷史地位
在嵌入式系統的運算能力與先進矽製程尚未跟上之前,機器視覺主要仰賴 CCD 提供的原始影像品質。高精度量測、平面顯示器檢測與科學顯微等系統都需要盡可能低的雜訊水準,而當時只有此架構能夠滿足。
其中,行間轉移 CCD成為凍結運動場景的業界標準。它能在數微秒內將光電二極體中的電荷轉移至相鄰的遮光垂直暫存器,從而實現完美的電子全域快門。影像不會出現空間扭曲,非常適合高速工廠自動化與智慧運輸系統。
機器視覺為何從 CCD 轉向 CMOS?
儘管 CCD 在 1990 與 2000 年代擁有出色的影像品質,但它們所面臨的物理限制最終使其在現代應用中逐漸被淘汰。最主要的瓶頸是速度。將數百萬個像素的電荷依序送入單一輸出放大器,會嚴重限制最大幀率。
此外,CCD 需要複雜的高電壓電源以驅動電荷移轉,導致功耗與發熱都相當顯著。它們也極易發生 blooming 現象--當某個像素嚴重過曝時,多餘的電荷會以物理方式溢出至相鄰像素,在影像上形成明亮的垂直條紋。
當感測器製造商成功將放大器微型化並直接放入 CMOS 設計中的每個像素時,兩者之間的雜訊差距便就此消弭。現代 CMOS 在達到經典 CCD 影像品質的同時,提供高出數個數量級的速度、更低的功耗,以及對 blooming 的完全免疫。
主要差異:經典 CCD 與現代 CMOS
在評估現有硬體或規劃升級路徑時,兩種技術之間的架構差異決定了系統設計:
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特性 |
經典 CCD 架構 |
現代 CMOS 架構 |
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讀出方式 |
循序讀出(電荷被傳輸至單一放大器)。 |
並行讀出(在每個像素內部進行放大)。 |
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幀率上限 |
低;受限於單一輸出節點。 |
極高;每秒可達數千幀。 |
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功耗 |
高;需要複雜的多電壓電源。 |
低;非常適合嵌入式視覺與行動應用。 |
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過曝處理 |
容易出現 blooming(垂直拖影)。 |
不會發生 blooming;電荷被隔離於像素內部。 |
常見問題
Blooming 是由感測器飽和所造成的影像偽影。當 CCD 上的某個像素接收到過多光線(例如金屬零件的反光),光電二極體會達到其滿井容量。多餘的電子會沿著垂直移位暫存器溢出至相鄰像素,形成明亮的垂直拖影,使影像的幾何資訊遭到破壞。
很少。機器視覺產業已全面轉向 CMOS。過去十年內,多數主要的感測器晶圓廠已停止生產 CCD。如今,CCD 相機幾乎只作為備品採購,用於維持既有、長期運行的舊系統,避免重新撰寫底層軟體。
全幅 CCD 幾乎使用整個感測器表面來收集光線,量子效率極高,但需要機械快門在讀出期間遮蔽光線。行間轉移 CCD 則犧牲部分感光面積,在每個像素旁設置遮光的移位暫存器,因此無需任何機械運動部件即可實現電子全域快門。
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