機器視覺中的 CMOS 感測器

每一台現代工業相機都仰賴一顆專用矽晶片,將光子轉換為資料。CMOS 感測器(互補式金屬氧化物半導體)是一種積體電路,包含微觀光電二極體陣列,每個像素都擁有自己專屬的放大器與讀出電路。這種主動像素架構在像素層級就直接將光轉換為電壓,再以數位訊號輸出。透過在晶片上並行處理資料,這些元件能提供工廠自動化與精密檢測所需的高幀率、低功耗與精準時序。

CMOS 感測器的運作原理

成像過程從光線進入像素中的光電二極體開始,並透過光電效應產生局部電荷。在這種架構中,電荷無需長距離移動。每個像素皆作為主動像素感測器(APS),擁有自己的微電路,可放大所收集的電荷並轉換為可量測的電壓。

電壓一旦被轉換,就會傳送至同一晶片上的類比數位轉換器(ADC)。由於放大過程直接在像素內完成,晶片可同時讀取多列或多欄。這種並行處理正是現代視覺系統得以達到極高幀率、同時將讀出雜訊維持在最低水準的關鍵。

CMOS 與 CCD:工業成像的轉型

數十年來,CCD(電荷耦合元件)技術一直是高保真工業成像的標準。CCD 將電荷依序通過整顆晶片送至單一中央放大器,能產生極低雜訊的影像,但嚴重限制了速度,並耗費大量電力。

如今,CMOS 已在機器視覺領域全面取代 CCD。半導體製程的進步消弭了 CCD 在歷史上的雜訊優勢。Sony 的 STARVIS、Pregius 與 Pregius S 等系列代表的現代架構,將卓越的量子效率與硬體觸發、類比數位轉換等進階功能直接整合於矽晶片之上。

CMOS 架構為何對機器視覺如此重要

工業檢測需要在高速下取得可靠的資料。無論您使用 GigE 相機檢測印刷電路板,或是在自駕車輛中部署 MIPI CSI-2 嵌入式模組,感測器架構都決定了系統的物理上限。

能力

對應用的影響

並行讀出

可達成擷取高速輸送帶上物件所需的超高幀率。

晶片上整合

將 ADC 與訊號處理放在同一晶片上,可縮小相機的物理體積與耗電量,對嵌入式視覺平台至關重要。

興趣區域(ROI)

允許軟體只讀取特定的像素區段,使幀率呈倍數提升,適用於目標追蹤與對位任務。

彈性的快門設計

同時支援用於凍結快速運動的全域快門邏輯,以及用於最大化弱光靈敏度的滾動快門邏輯。

需要評估的關鍵規格

在比較相機時,工程師通常依據 EMVA 1288 標準量測的標準化指標,以預測實際應用中的表現:

規格

量測內容

重要性

量子效率(QE)

光子成功轉換為電子的百分比。

決定相機在弱光條件下或使用極短曝光時間時的表現。

滿井容量

單一像素在飽和之前所能容納的最大電子數。

決定動態範圍的上限;對檢測高反光金屬零件至關重要。

讀出雜訊

由放大器與 ADC 所引入的電子本底雜訊。

雜訊越低,影像越乾淨,零件陰影區域的對比也更好。

像素間距

單一像素的物理尺寸(例如 3.45 µm)。

較大的像素能收集更多光線並具有更高的滿井容量,但需要使用更大尺寸的鏡頭以維持解析度。

常見問題

感測器是用來擷取光線的純矽晶片。相機則是完整的系統,包含外殼、散熱設計、介面電路、鏡頭接環以及韌體。這些元件共同將感測器的原始資料轉化為可供主機 PC 或嵌入式平台使用的影像。

不會。與舊式 CCD 不同--在 CCD 上,強光源所產生的多餘電荷會以物理方式溢出並影響相鄰像素(即所謂的 blooming),而主動像素設計天生就將每個像素的電荷彼此隔離。

較大的像素間距代表光電二極體的物理尺寸更大,可提升滿井容量並改善絕對靈敏度。然而,要在大像素的同時達到高百萬畫素,感測器整體尺寸就會變大,需要使用像圈更大的鏡頭,以避免暗角。

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